Oct 4, 2015 - Esta tesis se presenta como parte de los requisitos para optar al grado académico. Tessone, M., Del Blanco, M., Mac ambira, M., Rolando, A., 1999. Se empleó el Software Jade 7 con base ICDD PDF-4 Minerals y bases propias. Kaolin on the degree of disorder of kaolinite as determined by XRD. Todo sobre mi iPhone| Ver más ideas sobre Apple iphone, Dreams y Free iphone. Lots of cute transparent iPhone 6 plus cases Estuche Para Iphone, Fundas.
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Publicado por: en: 17 Apr 2015 Etiquetas:,,,,,,,,,,,,,,,,,, la mayoría de las muestras que recibimos vienen en volúmenes lo suficientemente altos como para llenar completamente el pozo en cualquiera de nuestros portamuestras estándar. Algunos son demasiado grandes o extrañamente formados que requiere una solución de sujeción especial como los enumerados, pero muchos son simplemente cantidades muy pequeñas de polvo. La colocación de éstos en un sostenedor estándar los dejaría bien fuera del plano de la difracción y proporcionaría datos terribles, sin mencionar la dispersión substancial o el fondo difractado de lo que el polvo se coloca encendido. La respuesta es un soporte de muestra de fondo cero (ZBH). La mayoría de nuestros usuarios ejecutan las placas originales Siemens/Bruker, pero otras utilizan si (100) e incluso sustratos de vidrio. Estamos muy contentos de decir que somos capaces de ofrecer un reemplazo directo para estos con nuestros nuevos titulares ZBH-32.
Éstos caben la mayoría de los sistemas de Siemens XRD y se pueden modificar para requisitos particulares para el uso en la mayoría de cualquier otro sistema. Póngase en contacto con nosotros para obtener más información sobre esto. El siguiente análisis muestra los datos recopilados de un solo mg de polvo estándar de silicio 640B esparcido a través de un ZBH. Soportes de muestra ZBH-32 montados para las etapas de la muestra única de Siemens y de Bruker. Algunos usuarios reportan resultados aceptables usando placas de vidrio simples.
Si bien hay advertencias serias aquí, puede ser una solución razonable para algunos usuarios. El problema con el vidrio amorfo no es los picos difractados en el fondo, sino más bien, se dispersan de la superficie.
La dispersión de rayos X de una superficie es inversamente proporcional al número atómico medio de ese material. Es decir, cuanto más ligera sea la matriz, más eficientemente dispersará los rayos X. Esta es la razón por la que usamos una muestra de grafito puro para caracterizar los espectros de emisión de nuestra instrumentación XRF. La muestra de vidrio muestra la dispersión esperada 'joroba' comenzando en un ángulo muy bajo y no se aplanan hasta casi 100 ° 2 θ. Mientras que algo de esto puede ser modelado y restado con un buen perfil de software de ajuste como Jade 2010, puede ser difícil de igualar la calidad de los datos de un buen ZBH. Estamos trabajando en una serie de videos para guiar a los nuevos usuarios a través de algunas de estas características, pero también hay clases de entrenamiento en el sitio.